在電子產(chǎn)品領(lǐng)域，鹽霧測試尤為關(guān)鍵。隨著電子產(chǎn)品應用場景日益復雜，如在沿海地區(qū)、工業(yè)污染區(qū)域等，潮濕且腐蝕性強的環(huán)境對其穩(wěn)定性構(gòu)成嚴峻挑戰(zhàn)。例如接插件、PCB 板等關(guān)鍵部件，一旦遭受鹽霧腐蝕，可能引發(fā)接觸不良、短路等問題，嚴重影響產(chǎn)品性能甚至導致安全隱huan.

電子產(chǎn)品鹽霧測試常用標準有 GB/T 2423.17 - 2008 (IEC 60068 - 2 - 11:1981) 及更新的 IEC 60068 - 2 - 11:2021《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Ka: 鹽霧試驗方法》，用于評估電子產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境中的抗腐蝕能力；GB/T 2423.18 - 2012 (IEC 60068 - 2 - 52:1996) 和 IEC 60068 - 2 - 52:2017《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Kb: 鹽霧，交變 (氯化鈉) 溶液》，針對電子產(chǎn)品在交變氯化鈉溶液環(huán)境中的耐腐蝕性能測試。?

測試時，先準備好待測產(chǎn)品，根據(jù)產(chǎn)品特性確定安裝和擺放方式，確保鹽霧均勻腐蝕。以常規(guī)中性鹽霧測試為例，鹽霧箱溫度設(shè)為 35℃，噴霧速率控制在 1 - 2ml/80cm²/h，產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境中暴數(shù)小時至數(shù)百小時不等。測試過程中定期檢查樣品狀態(tài)，結(jié)束后依據(jù)標準評估產(chǎn)品表面腐蝕情況，如有無腐蝕斑點、涂層剝落等，并出具包含測試條件、結(jié)果分析及耐腐蝕性能評估的詳細報告。?