半導體可靠性測試

　　半導體在收音機、電視機以及測溫上有著廣泛的應用，常見的半導體材料有硅、鍺、砷化鎵等，而硅更是各種半導體材料中，在商業應用上最具有影響力的一種。

　　氣候環境的變化是產品可靠性中不可忽視的重要因素，氣候環境測試主要是檢驗產品對各種環境的適應能力，在濕潤、干燥、高溫、低溫、連續溫度變化或溫度循環變化、日光老化、霉菌、氣體腐蝕和臭氧等氣候條件下使用或存儲的適應性，因為它會直接或間接影響產品的可靠性，所以產品是否可靠還必須用氣候環境試驗來證明。

　　半導體氣候環境測試項目主要包括：

　　氙燈光老化試驗--Xenon-arc aging

　　紫外光老化試驗--QUV aging

　　臭氧老化試驗--Ozone aging

　　鹽霧腐蝕測試——Salt Spray Test

　　硫化試驗--Sulphur resistance

　　低溫測試——Low Temperature Test

　　高溫測試——High Temperature Test

　　高低溫變化測試(溫度沖擊試驗)——Temperature Change Test

　　溫度循環測試——Temperature Cycle Test

　　溫濕度循環測試——Temperature & Humidity Cycle Test

　　溫度+濕度+振動三綜合試驗--Temperature & damp & vibration test

　　上述試驗項目比較全面地概括了產品在實際使用過程中碰到的外界環境。實際測試時，因為各產品本身屬性的相差較遠、使用環境相差也很大，企業可以根據產品的特點，適當選取、增加一些項目來測試，也可以根據產品特定的使用環境與使用方法，自行設計一些新測試項目，以驗證產品是否能長期工作。

產品可靠性測試按其使用環境所受破壞的主要因素可分為力學環境測試、氣候環境測試等。其工作原理是根據產品在一定的環境條件下可能遇到的氣候狀況、環境狀況、負載水平等一系列因素，通過一系列測試項目，綜合分析產品或試樣材料的性能，找到故障發生的原因，并采取消除、預防措施，從量化方面保證產品或試樣材料的質量，確保產品或試樣材料的安全性和耐久性。